使用的軟體相鑑別粉末衍射資料 Crystal Impact Match 1.7f
符合！是一個易於使用的軟體相鑑別粉末衍射資料，這已成為一個每日任務中的材料科學家們的工作。
符合！您的樣品的粉末衍射圖到一個資料庫，其中包括，以便確定這是本的相位的參考圖案進行比較。
單和多階段的峰值資料和原始資料（PROFILE）的基礎上，可確定。
參考資料庫，就可以申請內含免費的COD資料庫和/或ICSD /檢索（如果你有一個有效的許可證），使用任何ICDD的PDF產品，和/或建立一個使用者資料庫，根據你自己的衍射圖案。
使用者資料庫可以手動編輯模式，從晶體結構資料（如CIF檔案），計算峰值檔案，或匯入從你同事的使用者資料庫。
符合！功能清單
從粉末衍射資料的快速單個和多個相鑑別
使用免費的參考模式計算出COD（內含I / IC），任何ICDD的PDF資料庫，任何ICSD /檢索（1993-2002年發佈的，需要有效的許可證）和/或您自己的衍射資料（或模式從晶體結構資料（如CIF檔案））相鑑別計算
靈活處理的參考資料庫（內含使用者資料庫），你可以輕鬆地切換不同的參考資料庫，而不需要執行一個新的資料庫，指數化
建立參考資料庫的X射線和中子衍射，如從CIF檔案
舒適的使用者資料庫管理，易於維護的使用者資料（加入/匯入/編輯/刪除/排序項）
強大的CIF和ICSD /恢復進口，內含。粉末衍射圖的計算，I / Ic和密度
原子坐標例如ICSD ICDD PDF-4 +或免費的充電參考的資料顯示在資料表中，其中內含的CIF或文字檔案出口（例如裡特維爾德分析中）
衍射圖案和記錄資料表中顯示的米勒指數（HKL）
在鑽石的晶體結構，只需點擊幾下
（搜尋符合，檢索，資料瀏覽PDF資料處理自己的衍射資料與完全整合的）
自動殘留的搜尋與確定階段
原始資料自動處理：α2剝離，背景減法，峰值搜尋，輪廓擬合，糾錯
自動尋峰靈敏度的改善
配件的所有（或選取）的峰值參數為exp。檔案資料
使用滑鼠或鍵盤的舒適的手動編輯峰（加入/轉移/刪除/ FIT）
的半定量分析（選取參考強度比方法）
直進的用法的額外知識（組合物，PDF格式的子檔案，晶體學資料，彩色，密度等）
整合的資料庫檢索系統和瀏覽器為PDF和使用者資料表
多步復原/重做
支援新的PDF的項目編號（9位）
使用者可配置的自動操作
即時重排的結果清單中的全部參數控制
自動搜尋符合過程中轉移的d值（可選）
強度圖的優點，可以減少為偏好方向的情況下，
舒適的圖形和表格的峰值資料傳輸和候選模式的比較
滑鼠控制模式圖形縮放和追蹤
使用者可配置的HTML報告
線上更新（自動或手動）
支援的衍射資料檔案格式（自動檢驗）：
ASCII配置檔（開始，步長，強度或2列）
Match! is an easy-to-use software for phase identification from powder diffraction data, which has become a daily task in material scientists work. Match! compares the powder diffraction pattern of your sample to a database containing reference patterns in order to identify the phases which are present. Single as well as multiple phases can be identified based on both peak data and raw (profile) data.
As reference database, you can apply the included free-of-charge COD database and/or ICSD/Retrieve (if you have a valid licence), use any ICDD PDF product, and/or create a user database based on your own diffraction patterns. The user database patterns can be edited manually, imported from peak files, calculated from crystal structure data (e.g. CIF files), or imported from your colleague’s user database.
Match! Function List
Fast single and multiple phase identification from powder diffraction data
Use free-of-charge reference patterns calculated from the COD (incl. I/Ic), any ICDD PDF database, any ICSD/Retrieve version (released 1993-2002; valid licence required) and/or your own diffraction data (or patterns calculated from crystal structure data (e.g. CIF files)) in phase identification
Flexible handling of reference databases (incl. user databases); you can easily switch between different reference databases without the necessity to perform a new database indexation
Create reference databases for X-ray and neutron diffraction e.g. from cif-files
Comfortable user database manager for easy maintenance of user data (add/import/edit/delete/sort entries)
Powerful CIF- and ICSD/Retrieve import, incl. calculation of powder pattern, I/Ic and density
Atomic coordinates available e.g. in the ICSD, the ICDD PDF-4+ or free-of-charge reference data are displayed in the data sheets and included in the CIF- or Textfile-exports (e.g. for Rietveld analysis)
Displaying of Miller indices (hkl) in diffraction patterns and entry data sheets
View crystal structures in Diamond with just a few clicks
Fully integrated handling of your own diffraction data with PDF data (search-match, retrieval, data viewing)
Automatic residual searching with respect to identified phases
Automatic raw data processing: α2-stripping, background subtraction, peak search, profile fitting, error correction
Automatic optimization of peak searching sensitivity
Fitting of all (or selected) peak parameters to exp. profile data
Comfortable manual editing of peaks (add/shift/delete/fit) using mouse or keyboard
Semi-quantitative analysis (Reference Intensity Ratio method)
Straight-forward usage of additional knowledge (composition, PDF subfiles, crystallographic data, color, density etc.)
Integrated database retrieval system and viewer for PDF and user datasheets
Multiple step undo/redo
Support for new PDF entry numbers (9 digits)
User-configurable automatic operation
Full parameter control with instant rearrangement of the results list
Automatic d-value shifting during search-match process (optionally)
Intensity contribution to figure-of-merit can be reduced for preferred-orientation cases
Comfortable graphical and tabular comparison of peak data and candidate patterns
Mouse-controlled pattern graphics zooming and tracking
User-configurable HTML-reports
Online update (automatic or manual)
Supported diffraction data file formats (automatic detection):
ASCII profile (start, step, intensities or 2 columns)
Bruker/Siemens raw data (old and new) (*.raw)
Bruker/Siemens DIFFRAC AT peak data (*.dif)
DBWS (*.rfl, *.dat)
ENDEAVOUR peak list (2 columns: 2theta/d intensity; *.dif)
Inel raw data (*.dat)
Ital Structures raw data (*.esg)
Jade/MDI/SCINTAG raw data (*.mdi)
JEOL ASCII Export raw data (*.txt)
PANalytical XRDML Scan raw data (*.xrdml)
PANalytical/Philips peak data (*.udi)
PANalytical/Philips raw data (*.rd, *.udf)
Rigaku raw data (*.raw)
SCINTAG raw data (*.raw, *.rd)
Shimadzu raw data (*.raw)
Siemens (*.uxd)
Sietronics XRD scan data (*.cpi)
Stoe raw data (*.raw)
Stoe peak data (*.pks)
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